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年度
109
論文名稱
Optimal Design for Accelerated-Stress Acceptance Test
會議名稱
IEEE Transactions on Reliability 64(2)
會議開始時間
2020-12-05
全部作者
Chih-Chun Tsai; Chien-Tai Lin; Narayanaswamy Balakrishnan
備註
會議論文
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