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    年度104
    論文名稱Lifetime Inference for Highly Reliable Products Based on Skew-Normal Accelerated Destructive Degradation Test Model
    會議名稱IEEE Transactions on Reliability 64(4), pp.1340-1355
    會議開始時間2015-12-04
    全部作者Tsai, Chih-Chun; Lin, Chien-Tai
    備註會議論文

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