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年度
98
等級
SCI
論文名稱
Optimal step-stress accelerated degradation test plan for gamma degradation processes
全部作者
Tseng, Sheng-tsaing; Balakrishnan, N.; Tsai, Chih-chun
卷數
IEEE Transactions on Reliability 58(4), pp.611-618
ISSN(ISBN)
0018-9529
使用語言
英文
備註
期刊論文
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