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    年度100
    等級SCI
    論文名稱Optimal Design for Gamma Degradation Processes with Random Effects
    全部作者Tsai, Chih-chun; Tseng, Sheng-tsaing; Narayanaswamy Balakrishnan
    卷數IEEE Transactions on Reliability 61(2), pp.604-613
    ISSN(ISBN)0018-9529
    使用語言英文
    備註期刊論文

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