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    年度99
    論文名稱Optimal burn-in policy for highly reliable products using gamma degradation process
    全部作者Tseng, Sheng-tsaing; Balakrishnan, N.; Tsai, Chih-chun
    卷數IEEE Transactions on Reliability 60(1), pp.234-245
    ISSN(ISBN)0018-9529
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